AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 返回列表頁

AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機

全新發布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢，實現了在同一系統中對樣品進行多模態（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。

· 設備掃描范圍（開環）：100μm×100μm×20μm

· 設備掃描范圍（閉環）：80μm×80μm×16μm

· 分辨率：0.2nm×0.2nm×0.04nm

· 最大樣品尺寸：21mm×11mm×8mm

· 最大樣品重量：100g

· 成像模式：表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等

飛納電鏡——復納科學儀器（上海）有限公司，2012年創立于上海，為高校、企業和研究所提供臺式掃描電子顯微鏡，產品包含：臺式場發射掃描電鏡、CeB6 燈絲系列臺式掃描電鏡、Particle X 系列全自動掃描電鏡以及掃描電鏡樣品制備設備——離子研磨儀等。

飛納電鏡還提供與臺式掃描電鏡相關的技術支持和測試服務。我們一直專注顯微技術，致力于實現掃描電鏡平民化。飛納電鏡為用戶提供從掃描電鏡基礎理論到 Level 5 應用工程師的進階培訓，在上海、北京、廣州、成都設立了測試中心和售后服務中心，目前飛納電鏡在中國已經擁有超過 2000 名用戶。